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椭偏仪

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全光谱椭偏仪

简要描述:

椭偏仪是一种测量薄膜特性的仪器。 可以测量薄膜的厚度、折射系数、表面粗糙度、晶格结构和各项异性等。 ...

详细介绍
全光谱椭偏仪SE950


        光学原理:
        光波从接触到光学组件表面,到离开光学组件表面的短暂时间里,其偏极状态(polarization state)一定会改变。椭圆偏光仪,既是一种用来量测光波穿透光学组件,或从光学组件表面反射前后偏极状态改变情形的仪器。
 
        适用于各种功能材料的光学常数测量和光谱特性分析
 
        应用领域:
        微电子和半导体、平板显示、光电子、光伏太阳能电池、生物化学工程、光学镀膜、纳米技术、在线实时过程控制
 
        产品特点:
1. 能精密测量膜厚及折射率
2. 波长范围波长范围:280-1050,可扩展为193nm-1700nm。
3. 测试精度:0.05nm
4. 测试厚度范围:1nm-90μm

 


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